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q=%E5%AD%94%E5%AD%A6%E4%B8%9C&searchType=standard&isFacet=true&view=standard&searchWay=author&booktype=1&booktype=2&booktype=3&booktype=5&booktype=6&booktype=7&booktype=8&booktype=11&booktype=12&booktype=13&booktype=16&booktype=17&booktype=18&booktype=19&rows=10&sortWay=score&sortOrder=desc&searchWay0=marc&logical0=AND
booktype=1&booktype=2&booktype=3&booktype=5&booktype=6&booktype=7&booktype=8&booktype=11&booktype=12&booktype=13&booktype=16&booktype=17&booktype=18&booktype=19&rows=10&searchWay0=marc&logical0=AND
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孔学东
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孔学东
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恩云飞
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孔学东, 恩云飞主编
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孔学东，恩云飞，尧彬等翻译
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孔学东，恩云飞，陆裕东等著
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文献类型
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1.
电子元器件失效分析与典型案例
已借17次.
订购中
(含光盘)
著者:
孔学东
恩云飞
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2006
文献类型:
图书 , 索书号:
TN601/1294
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著者简介
2.
电子产品故障预测与健康管理：应用构架与实践
订购中
(含光盘)
著者:
孔学东
恩云飞
陆裕东
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2013
文献类型:
图书 , 索书号:
TN06/x1294
在馆信息
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试读信息
内容简介
著者简介
3.
电子封装技术与可靠性
订购中
(含光盘)
著者:
阿德比利
派克
出版社:
化学工业出版社
出版日期: 2012
文献类型:
图书 , 索书号:
TN405.94/t7122
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